評価装置

透過型電子顕微鏡(TEM-200kV)【NEW】

概要と仕様

透過型顕微鏡(TEM-200kV)透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope; TEM)とは、電子顕微鏡の一種である。観察対象に電子線をあて、それを透過してきた電子が作り出す干渉像を拡大して観察するタイプの電子顕微鏡のこと。加速電圧200kV、分解能0.12nm(格子像)。主に金属・セラミックス・半導体などのサイズ、形状のほか結晶構造解析が可能。また、EDS分析装置が搭載されており、高分解能TEM、STEMイメージング、HAADF像や組成マッピング分析等、広範な観察が可能。(FEI Talos F200X)